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科研仪器

自研大口径高精度倍频晶体定向仪

发布时间:2021-01-05

图1 大口径高精度电光晶体Z轴偏离角检测平台

检测指标:

  1. 测量方式:非接触式;
  2. 测量原理:摇摆曲线比对法;
  3. 可测量的晶体类型:抛光的二倍频晶体;
  4. 可测量的晶体尺寸:不大于400mm×400mm;
  5. 测量精度:优于5.000μrad;
  6. 测量重复性:优于0.500μrad。

参考文献:

[1] Qi Lu, Shijie Liu, Xiangchao Zhang, Tianzhu Xu, Jingyu Pan, Min Xu, and Jianda Shao, "High-accuracy and high-repeatability measurement of the cut error of a nonlinear uniaxial crystal," Appl. Opt. 60, 41-46 (2021)

[2] 刘世杰, 鲁棋, 徐天柱, 潘靖宇, 周游, 王圣浩, 邵建达. 倍频晶体定轴误差测量装置及测量方法. 中国专利: ZL201910116649.2, 2020-10-16.



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