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科研仪器

中波红外激光干涉仪

发布时间:2024-10-25

中波红外激光干涉仪基于中波红外相干光源、移相干涉术及菲索型干涉等多项原理设计,搭载高精度快速移相、自研MAPSI多表面测量[1-2]、高精度相位解包、高精度抗振测量等核心自研技术,具备面形误差、透射波前误差、光学均匀性、面形Zernike拟合、系统传递函数(ITF)[3]等测量功能,确保复杂工业环境下依然实现稳定、精准的实时检测。

应用领域包括:

✔ ‌红外光学材料(如:硅、锗、硫系、氟化钙光学均匀性检测;

✔ ‌红外光学元件面形误差检测;

✔ ‌红外光学透镜透射波前误差检测;

 红外光学透镜组装调;

 光学元件粗抛光加工阶段大偏离面形误差测量;

……

本设备具备‌:

 ‌‌纳米级测量精度‌(标配面形误差测量精度RMS≤λ/50 或 PV≤λ/10λ = 3390nm);

✔ ‌支持‌平行平板双面面形检测‌(选配波长移相);

✔ ‌支持通过配备相应扩束系统及大口径标准镜,将测量口径扩大至≥Φ500mm;

……

中波红外激光干涉仪技术规格表

序号 参数 MWIR-SM MWIR-SW MWIR-SMW MWIR-DM MWIR-DW
MWIR-DMW
1 中心波长(λ 3390±1 nm 3390±1 nm和用户定义一个波长(即双工作波长)[4]
2 测量口径 Φ101.6 mm (标配)、最大可提供≥Φ500mm(选配)[5]
3 测量光束中心高 108 mm
4 移相方式 机械移相 波长移相 机械移相和波长移相[4] 机械移相 波长移相 机械移相和波长移相[4]
5 光学均匀性测量(针对楔板) ✅️ ✅️ ✅️ ✅️ ✅️ ✅️
6 光学均匀性测量(针对平行平板及楔板)[1-2] ❌️ ✅️ ✅️ ❌️ ✅️ ✅️
7 光源相干长度 ≥300 m
8 测量腔长 ±2 m
9 干涉图分辨率
640×512(标配)、1088×1088(选配)
10 采集帧率
60 Hz
11 对点画面分辨率
640×512(标配)
12 对点视场(x和y方向)
±2°(标配)、±3° (选配)
13 透射标准镜(TF)及二维调整架 1套,调节范围±4° 
14 透射标准镜(TF)参考面面形误差
PV≤λ/20(标配)、PV≤λ/50(标配)或更优 (选配),
并提供CNAS或CMA检测报告
15 反射标准镜(RF)及二维调整架 1套,调节范围±4° 
16 反射标准镜(RF)面形误差 PV≤λ/20(标配)、PV≤λ/50(标配)或更优 (选配),
并提供CNAS或CMA检测报告
17 对点及调焦用遥控器 1个
18 干涉仪腿调整块 4个
19 测量软件 PhasePro(提供1年免费升级和维护)及《软件使用说明书》
20 辅助工具方面

4英寸端口提供1个高同轴度可见光指示器(配4-inch卡口,如图5所示[7])、大口径端口另提供1个专用可见光激光指示器(对点范围±90°)及《辅助工具使用说明书》

21 功能 Mask掩膜(含圆形、椭圆形、矩形、圆角矩形、自由多边形、多Mask并与非集操作)、相机参数调节、激光器功率调节、测量结果2D轮廓图显示、3D轮廓图显示标准面形检测色度条去像差、PV&RMS结果显示、PV&RMS数据记录与导出、6阶Zernike多项式拟合、通用.dat数据保存与导入、ISO10110报告、Seidel像差报告等功能;面形误差、透射波前误差、光学均匀性、多表面测试、ITF测试等测量模块。
22 电源要求 AC 110-220V、50-60 Hz

相关图片及视频:

图1 中红外光学元件主要被测对象

图2 上海光机所自研4英寸中波红外干涉仪[4]

图3 基于多尺度移相干涉术(MAPSI)的多表面测量专利技术[1-2]

图4 Φ600mm口径光学元件绝对检测装置与三表面原位绝对面形检测专利技术[6, 15-16]

图5 4英寸端口高同轴度可见光指示器(对点范围±90°,配4-inch卡口)[7]

图6 能绕过中波红外相机噪声、异常点的相位解包技术[8]

图7 市面上一些中红外光学元件光学均匀性测量结果(反映材料内部性能)

图8 采用高稳定性气浮装置,便于大口径元件的平稳搬运与转运

大口径调整架调节机构采用无回程间隙凸轮传动调节结构,并内置自锁功能,替代传统蜗轮蜗杆传动结构,从根本上解决了蜗轮蜗杆因回程间隙大、调节精度低、干涉条纹难以在短时间内调零等问题,提升用户使用便捷性:

图9 新型无回程间隙的凸轮传动调整结构

参考资料(以下公开资料均源自本课题组)

[1] 鲁棋,丁毅凡,刘世杰等. 一种基于样本熵的透明平行光学元件面形检测方法. CN202410442113.0, 2024.04.12.

[2] Yifan Ding, Qi Lu*, Shijie Liu, Xu Zhang, Dapeng Chen, and Jianda Shao, "Surface profile measurement of transparent parallel plates by multi-scale analysis phase-shifting interferometry (MAPSI)", Optics and Lasers in Engineering181, 108432 (2024). https://doi.org/10.1016/j.optlaseng.2024.108432

[3] Xu Zhang, Qi Lu, Tianzhu Xu, Ying Sun, Shijie Liu, Dmitry Silin, Ilya Kozhevatov, Efim Khazanov, "The influence of phase-shifting algorithms on the instrument transfer function in a Fizeau interferometer," Proc. SPIE 12319, Optical Metrology and Inspection for Industrial Applications IX, 123190O (2022)

[4] 鲁棋,裴惠熠,刘世杰. 一种大口径双通道双移相中红外激光干涉仪. CN202511534327.1, 2025.10.26.

[5] 鲁棋,马超凡,刘世杰等. 一种离轴两反系统低应力装配结构. CN202511534341.1, 2025.10.26.

[6] You Zhou, Shijie Liu, Qi Lu, Yunbo Bai, Fulin Wu, Jianda Shao, In situ absolute surface metrology for a 600 mm aperture interferometer, Optics and Lasers in Engineering, 129, 2020, 106054.

[7] 鲁棋,杨帆,刘世杰等. 一种干涉仪用的高同轴度激光指示器及自校准方法. CN202510844047.4, 2025.06.23.

[8]丁毅凡,鲁棋,刘世杰等.基于多路径搜索的高精度、快速相位复原软件V1.0. 2025SR2487187.

[9] 王培力,丁毅凡,鲁棋等. 中红外宽光谱激光干涉仪. CN202310901392.8. 2023.07.21.

[10] 刘世杰,鲁棋,周游等. 宽光谱球面透射标准镜. CN202010199957.9, 2020.03.20.

[11] Xu Zhang, Qi Lu, Yunbo Bai, Shijie Liu, Jianda Shao, "Design and analysis of wide-band transmission spheres for multiwavelength interferometers," Opt. Eng. 60(8) 085102 (2021)

[12] 刘世杰,鲁棋,周游等. 多波长激光干涉仪. CN201810749061.6, 2018.07.10.

[13] Qi Lu, Yifan Ding, Wei Wang, Shijie Liu, and Min Xu, "VIS-NIR superachromatic triplet design with five-color correction for a broadband interferometer," Appl. Opt. 61, 8880-8888 (2022)

[14] Qi Lu, Shijie Liu, Jianda Shao, You Zhou, Tianzhu Xu, Jingyu Pan, Shenghao Wang, Yunbo Bai, Xueke Xu; A simple high-precision wide-spectrum interferometric system. Rev. Sci. Instrum. 1 July 2019; 90 (7): 075109.

[15] 白云波,周游,刘世杰等. 用于干涉仪平面标准镜绝对面形检测的旋转机构. CN201910206648.7, 2019.03.19.

[16] 刘世杰,白云波,周游等. 平面光学元件绝对面形检测装置. CN201710380378.2, 2017.05.25.

[17] 刘世杰,周游,白云波等. 双通道双波长干涉检测装置. CN201610551583.6, 2016.07.14.

[18] 刘世杰,周游,白云波等. 大口径高平行度光学元件波前检测装置. CN201610024221.1, 2016.01.14.

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