中国科学院上海光学精密机械研究所检测中心欢迎您的访问!
科研论文

自由曲面光学元件面形自适应干涉检测领域取得进展

发布时间:2024-01-01

近日,我中心鲁棋老师在光学领域TOP期刊《Optics Express》上报道了在自由曲面光学元件面形自适应干涉检测领域取得的进展

针对自适应波前干涉术(AWI)所存在的分步和无模型优化的局限性,本研究提出了基于反向传播的确定性自适应波前干涉术(DAWI)。与现有的技术显著不同,DAWI在操作过程中不完整干涉条纹的重建和疏化是同时进行的,从而大大提高了测试效率。为进一步提升DAWI的优化性能,本研究创新性地提出了AdaGradDec梯度下降优化器。实验证明,相比传统的三步AWI法,DAWI在条纹重建中的迭代次数减少了至少20倍。因此,DAWI不仅显著提升了干涉测量的效率,还展现出了更高的通用性、复现性和测量精度,为自由曲面的自适应干涉测量技术的发展奠定了坚实基础

相关成果见:Qi Lu, Weichao Gong, Ying Sun, Weiwei Wang, Xu Zhang, Peili Wang, Yifan Ding, Wei Wang, Shijie Liu, Xiangchao Zhang, Min Xu, and Jianda Shao, "Fast, intelligent and high-precision adaptive null interferometry for optical freeform surfaces by backpropagation," Opt. Express 32, 2658-2669 (2024).

测量视频


附件下载: