近日，我中心鲁棋老师在光学领域TOP期刊《Optics Express》上报道了在自由曲面光学元件面形自适应干涉检测领域取得的进展。
针对自适应波前干涉术（AWI）所存在的分步和无模型优化的局限性，本研究提出了基于反向传播的确定性自适应波前干涉术（DAWI）。与现有的技术显著不同，DAWI在操作过程中不完整干涉条纹的重建和疏化是同时进行的，从而大大提高了测试效率。为进一步提升DAWI的优化性能，本研究创新性地提出了AdaGradDec梯度下降优化器。实验证明，相比传统的三步AWI法，DAWI在条纹重建中的迭代次数减少了至少20倍。因此，DAWI不仅显著提升了干涉测量的效率，还展现出了更高的通用性、复现性和测量精度，为自由曲面的自适应干涉测量技术的发展奠定了坚实基础！
相关成果见：Qi Lu, Weichao Gong, Ying Sun, Weiwei Wang, Xu Zhang, Peili Wang, Yifan Ding, Wei Wang, Shijie Liu, Xiangchao Zhang, Min Xu, and Jianda Shao, "Fast, intelligent and high-precision adaptive null interferometry for optical freeform surfaces by backpropagation," Opt. Express 32, 2658-2669 (2024).
图1 DAWI原理: (a)光路图; (b)两路干涉光束的偏振态信息
图2 DAWI自适应补偿过程中干涉条纹形状的四种不同状态:（a）初始干涉条纹；（b）同步条纹重建和稀疏化；（c）条纹重建完成并且条纹非常稀疏；以及（d）实现了零测试
图3 DAWI的测量结果和相对测量误差（具体见论文中描述）
测量视频