2024年6月18日，备受瞩目的2024长春国际光电博览会（CCIOE）于东北亚国际博览中心盛大开幕。本届展会汇聚了来自全球的光电领域顶尖企业和专家，共同探讨光电产业的发展趋势和未来前景。
图1 合影留念
在这场光电技术的盛宴中，中国科学院上海光学精密机械研究所光学检测与表征中心（简称“本中心”）以其卓越的技术实力和前沿科研成果，成为展会上的一大亮点。
本中心自成立以来，一直致力于光学检测技术的研发与应用，取得了多项重大创新成果。工作人员向参观者详细介绍了本中心在光学检测与表征方面的最新技术和研究成果，包括用于快速、高精度检测光学自由曲面面形的自适应零位干涉术（Adaptive Null Interferometry，ANI）、用于测量平行元件表面面形的多尺度分析移相干涉术（Multi-scale Analysis Phase-shifting Interferometry，MAPSI）、大口径平面光学元件面形的高精度绝对检测技术等，这些技术不仅具有优秀的测量精度和通用性，而且在光电产业中具有广阔的应用前景。此外，本中心还展示了自主研发的一系列光学检测设备，包括高精度激光干涉仪、大口径高精度应力仪、高精度光谱分析仪等，这些设备以其高效、精准、稳定的性能，赢得了参观者的高度认可和赞誉。
图2 李百中博士在介绍自研4英寸波长调谐移相干涉仪（带自研MAPSI多表面分析功能）
值得一提的是，本中心于2021年12月正式通过中国合格评定国家认可委员会（CNAS）认可认证，并获得国家级检验检测机构资质认定。这些荣誉的获得不仅彰显了中心在光学检测领域的专业实力和技术水平，也为中心在国际上树立了良好的形象和声誉。展会期间，本中心还积极参与了多场技术交流和学术研讨活动。中心的专家们与来自全球的同行们进行了深入的交流和探讨，分享了各自在光学检测与表征方面的最新研究成果和技术进展。这不仅促进了中心与国际同行之间的交流与合作，也为中心未来的发展奠定了坚实的基础。
未来，本中心将继续秉承“创新、卓越、服务”的宗旨，不断推动光学检测技术的创新与发展，为光电产业的繁荣与发展贡献自己的力量。
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本文所涉及的技术信息和数据均来源于本中心及相关权威机构，旨在客观报道其参展情况和科研成果。对于本文中可能存在的误差或遗漏，本文不承担任何责任。