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光学检测与表征中心亮相2024深圳光电博览会

发布时间:2024-09-14

    2024年9月11-1325届国际光电博览会CIOE2024),即2024深圳光电博览会深圳国际会展中心(宝安新馆盛大开幕。本届展会汇聚了来自全球的光电领域顶尖企业和专家,共同探讨光电产业的发展趋势和未来前景。

本中心展示了多项光学检测与表征领域的创新技术,包括自适应零位干涉术(ANI)、基于多尺度分析移相干涉术(MAPSI)的多表面测量技术(MST以及米级口径平面光学元件面形及衍射波前的高精度绝对检测技术等。这些技术不仅具备极高的测量精度和广泛的适用性,还在光电产业中展现出巨大的应用潜力。

同时,本中心还展出了自主研发的一系列高端光学检测设备,如高精度激光干涉仪、大口径高精度应力仪及高精度光谱分析仪等,凭借高效、精准、稳定的性能,吸引了众多参观者的目光。





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