工学博士
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通信地址：上海市嘉定区汇旺东路899号
邮政编码：201815
研究领域
精密光学元件表面疵病、亚表面损伤和体缺陷检测技术；散射成像；激光与物质相互作用机理与测量技术；吸收谱测量；光学仪器工程
教育经历
非公开
工作经历
非公开
奖励与荣誉
非公开
在研项目
非公开
发表论文
期刊文章
1. Kaizao Ni, Xin Cheng, Baoming Huang, Shijie Liu*, Jianda Shao, Zhouling Wu, Jian Chen, Ming Huang, Quantitative Evaluation of Subsurface Damage by Improved Total Internal Reflection Microscopy, Applied Sciences, 2019, 9(9), 1819
2. 李英甲，倪开灶*，王微微，刘世杰，邵建达，吴周令，张龙，基于光热技术的氧化钇透明陶瓷缺陷特性研究，中国激光，2021，48(23): 2303001
会议文章
1. Weixiang Yang, Lanqing Li, Kaizao Ni*, Shijie Liu*, Jiaxing Chen, Detection and simulation of defects on precision optical surface, Proc. of SPIE, 2023, 12617: 126176R
2. Lanqing Li, Weixiang Yang, Jiaxing Chen, Kaizao Ni*, Shijie Liu*, Jianda Shao, Three-dimensional measurement of defects on optical surface by transient interference technique, Proc. of SPIE, 2023, 12617: 126173J
3. Baoming Huang, Yingjie Yu, Kaizao Ni, Shijie Liu*, You Zhou, Jianda Shao, Study on image stitching algorithm of surface defects three-dimensional features measurement with transient interferometry, Proc. of SPIE, 2019, 10839: 1083916
发明专利
1. 一种球面光学元件表面缺陷测量装置和测量方法，CN112229854B，倪开灶，刘世杰，邵建达，李英甲，潘靖宇
2. 掩模基板表面微纳缺陷检测装置和检测方法，CN114965369B，倪开灶，邵建达，刘世杰，徐学科，顿爱欢，曹俊，方媛媛
3. 材料宽谱吸收特性测量装置和测量方法，CN114428057B，邵建达，倪开灶，刘世杰，李岚清，杨为香
4. 球面元件表面缺陷散射探测装置和测量方法，CN113884505B，刘世杰，倪开灶，邵建达，李岚清，杨为香
5. 介质高反膜元件表面缺陷测量装置和测量方法，CN111948223B，刘世杰，倪开灶，邵建达，王微微，潘靖宇，邹超逸
6. Surface defect measuring apparatus and method by microscopic scattering polarization imaging, US17/037606, Jianda Shao, Shijie Liu, Kaizao Ni, Shenghao Wang, You Zhou, Weiwei Wang, Tianzhu Xu, Qi Lu
7. 吸收性缺陷单光束光热测量装置和测量方法，CN111426700B，刘世杰，倪开灶，邵建达，王微微，徐天柱，李英甲，鲁棋
8. 基于微偏振片阵列的偏振成像皮肤病变检测方法和检测装置，CN111202497B，刘世杰，倪开灶，邵建达，周游，王微微，徐天柱，潘靖宇，李灵巧
9. 光学元件表层缺陷快速探测和识别的检测装置和检测方法，CN110687080B，邵建达，倪开灶，刘世杰，周游，王圣浩，徐天柱，潘靖宇，白云波
10. 显微散射偏振成像表面缺陷测量装置和测量方法，CN110441309B，邵建达，刘世杰，倪开灶，王圣浩，周游，王微微，徐天柱，鲁棋
11. 大口径光学元件表面缺陷三维形貌测量装置和方法，CN109099859B，邵建达，刘世杰，倪开灶，黄保铭，潘靖宇，周游，王微微，鲁棋
12. 大口径元件体内缺陷快速检测装置和方法，CN109060816B，邵建达，刘世杰，倪开灶，黄保铭，潘靖宇，徐天柱，李灵巧