在光学镀膜元件波前质量研究领域，我中心近日取得了重要突破。经过科研人员的不懈努力，成功研制出Φ300mm光学元件环境条件测试平台，这一平台的诞生将为研究环境变化对光学元件性能的细微影响提供有力支持。

大口径高精度电光晶体Z轴偏离角检测平台。检测指标：测量方式：非接触式。1.测量方式：非接触式；​2.测量原理：锥光干涉法；3.可测量的晶体类型：抛光的电光晶体；4.可测量的晶体尺寸：不大于400mm×400mm、厚度10mm~20mm；5.测量精度：优于0.200mrad；6.测量重复性：优于0.02...